作者：陳春萬，蔡春進
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計畫已於實驗室，透過測量高溫爐出口端銀微粒的重量濃度與有效密度，比較SMPS-APM與PENS的測量結果。計畫也已前往奈米物質作業場所進行空氣中微粒的數目濃度、粒徑分布、肺泡區沉積表面積濃度即時監測，輔以重量濃度、型貌與元素成分測定，評估作業場所中的奈米微粒的逸散與暴露狀況，測定的作業場所包含奈米碳纖維的合成工廠、奈米微粒實驗室與科技廠。 研究發現作業場所特定作業時會有短時間奈米微粒逸散，一般狀況下奈米微粒逸散都有適當控制措施，而SMPS-APM仍需適當改進，才能應用於作業環境現場奈米微粒重量濃度之測定。
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