本書內容涉及數位積體電路測試優化的三個主要方面：測試壓縮、測試功耗優化、測試調度。包括測試資料壓縮的基本原理，激勵壓縮的有效方法，測試響應壓縮方法和電路結構；測試功耗優化的基本原理，靜態測試功耗優化方法，動態測試功耗優化；測試壓縮與測試功耗協同優化方法；測試壓縮與測試調度協同優化方法；並以國產64位高性能處理器(龍芯2E和2F)為例介紹了相關成果的應用。
全書闡述了作者及其科研團隊自主創新的研究成果和結論，對致力於數位積體電路測試與設計研究的科研人員(尤其是在讀研究生)具有較大的學術參考價值，也可用作積體電路專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。

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