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專利審查基準及實務(上)程序、發明(I)篇

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作者:張仁平

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內容簡介

本書分為上下兩冊,包括程序、發明、設計、新型及舉發等五篇,其中彙整案例超過250則,考題超過1000題。上冊為「程序審查及專利權管理篇」及「發明專利實體審查篇」最重要之第一至第三章等,內容充實深入,完整詮釋專利審查基準及實務。

本書適用對象廣泛,舉凡專利審查人員審案及訓練之參考、從業者(事務所之專利師及專利工程師、專利代理人及專利工程師、企業之智權及法務人員)申請專利之實務及研究參考、有志從事專利工作者之入門及應試參考(專門職業及技術人員高考專利師考試、智慧財產人員能力認證考試)等,皆可各取所需。

作者簡介:

張仁平

  【現職】
  經濟部智慧財產局專利高級審查官兼科長
  審查基準小組召集人

  【經歷】
  .1980年至1981年任職南亞塑膠公司副工程師
  .1981年至1984年任職大學及技術學院化工系講師
  .1984年進入經濟部中央標準局(智慧財產局前身)擔任專利審查委員、化工審查組組長
  .2000年第一屆經濟部專利審查官特考及格,擔任經濟部智慧財產局專利助理審查官、專利審查官、審查基準科科長,負責完成現行發明專利審查基準、專利侵害鑑定要點、中草藥專利審查基準
  .美國專利商標局訪問學者,日本特許廳、歐洲專利局(EPO)研習,世界智慧財產組織(WIPO)、英國專利局、法國工業財產局、荷蘭專利局參訪考察
  .擔任智慧財產培訓學院種籽師資培訓班講師、專利研討會講者及大學、法院、協會、機關、廠商等專利專題講座

  【學歷】
  台灣大學化工碩士

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