作者：莊東漢
收藏
3二手徵求有驚喜
定價：NT$ 680
優惠價：93 折，NT$ 632
運送方式：超商取貨、宅配取貨
銷售地區：全球
訂購後，立即為您進貨
「材料破損分析」（Failure Analysis）相當於「材料診斷學」，也就是當材料發生破損時，利用各種儀器及方法，從破損的形貌觀察及破損成份分析，推斷破損的機制，並藉此尋求破損原因，以便對症下藥，或者避免重蹈覆轍。
材料破損形式可歸納為機械力破損、腐蝕性（化學力）破損及高溫（熱力）破損。機械力破損主要涵蓋恆力破損、疲勞破損及磨耗；腐蝕性破損則包括均勻腐蝕、粒間腐蝕、孔蝕、隙縫腐蝕、伽凡尼腐蝕、去合金等類型；高溫破損主要分為高溫腐蝕破損與高溫強度破損。針對這些材料破損種類，本書將詳細說明其破損特徵與破損機制。
「工欲善其事，必先利其器」，從事破損分析工作，有許多分析儀器與檢測技術可以利用，大致區分為破損形貌觀察工具與破損成份分析工具，前者包括宏觀觀察、微觀觀察及電子束觀察相關儀器，後者則涵蓋表面分析、次表面分析及本體分析之各種儀器；此外，非破壞性檢測亦為破損分析必須了解的技術。另外，從材料破損分析的角度，殘留應力量測及破壞力學理論亦是重要的輔助方法。本書針對這些破損分析工具及技術亦將作完整介紹。
作者簡介：
莊東漢
學歷：國立台灣大學材料系教授兼工學院副院長
德國斯圖佳特大學材料博士（1983)
國立清華大學材料碩士（1979)
經歷：德國馬克斯蒲朗克研究院金屬所研究員（1983-1985)
國立台灣大學材料所所長（1992-1995)
交通部電信研究所技術顧問（1985-1988)
經濟部專業人員訓練中心材料破損分析對策班輔導長（1989-2002)
榮譽：中山技術發明獎（1990)
中山學術著作獎（1993)
教育部產學合作獎（2000)
中國工程師學會傑出工程教授獎（2001)
國科會傑出研究獎（2002-2005)
退換貨說明：
會員均享有10天的商品猶豫期（含例假日）。若您欲辦理退換貨，請於取得該商品10日內寄回。
辦理退換貨時，請保持商品全新狀態與完整包裝（商品本身、贈品、贈票、附件、內外包裝、保證書、隨貨文件等）一併寄回。若退回商品無法回復原狀者，可能影響退換貨權利之行使或須負擔部分費用。
訂購本商品前請務必詳閱退換貨原則。| 徵求價 | 數量 |
| 3折 | 1 |
| 6折 | 2 |
影片僅供參考，實物可能因再版或再刷而有差異
作者：莊東漢
收藏
3二手徵求有驚喜
優惠價： 93 折， NT$ 632 NT$ 680
運送方式：超商取貨、宅配取貨
銷售地區：全球
訂購後，立即為您進貨
「材料破損分析」（Failure Analysis）相當於「材料診斷學」，也就是當材料發生破損時，利用各種儀器及方法，從破損的形貌觀察及破損成份分析，推斷破損的機制，並藉此尋求破損原因，以便對症下藥，或者避免重蹈覆轍。
材料破損形式可歸納為機械力破損、腐蝕性（化學力）破損及高溫（熱力）破損。機械力破損主要涵蓋恆力破損、疲勞破損及磨耗；腐蝕性破損則包括均勻腐蝕、粒間腐蝕、孔蝕、隙縫腐蝕、伽凡尼腐蝕、去合金等類型；高溫破損主要分為高溫腐蝕破損與高溫強度破損。針對這些材料破損種類，本書將詳細說明其破損特徵與破損機制。
「工欲善其事，必先利其器」，從事破損分析工作，有許多分析儀器與檢測技術可以利用，大致區分為破損形貌觀察工具與破損成份分析工具，前者包括宏觀觀察、微觀觀察及電子束觀察相關儀器，後者則涵蓋表面分析、次表面分析及本體分析之各種儀器；此外，非破壞性檢測亦為破損分析必須了解的技術。另外，從材料破損分析的角度，殘留應力量測及破壞力學理論亦是重要的輔助方法。本書針對這些破損分析工具及技術亦將作完整介紹。
作者簡介：
莊東漢
學歷：國立台灣大學材料系教授兼工學院副院長
德國斯圖佳特大學材料博士（1983)
國立清華大學材料碩士（1979)
經歷：德國馬克斯蒲朗克研究院金屬所研究員（1983-1985)
國立台灣大學材料所所長（1992-1995)
交通部電信研究所技術顧問（1985-1988)
經濟部專業人員訓練中心材料破損分析對策班輔導長（1989-2002)
榮譽：中山技術發明獎（1990)
中山學術著作獎（1993)
教育部產學合作獎（2000)
中國工程師學會傑出工程教授獎（2001)
國科會傑出研究獎（2002-2005)
退換貨說明：
會員均享有10天的商品猶豫期（含例假日）。若您欲辦理退換貨，請於取得該商品10日內寄回。
辦理退換貨時，請保持商品全新狀態與完整包裝（商品本身、贈品、贈票、附件、內外包裝、保證書、隨貨文件等）一併寄回。若退回商品無法回復原狀者，可能影響退換貨權利之行使或須負擔部分費用。
訂購本商品前請務必詳閱退換貨原則。| 徵求價 | 數量 |
| 3折 | 1 |
| 6折 | 2 |
請在手機上開啟Line應用程式，點選搜尋欄位旁的掃描圖示
即可掃描此ORcode
